影響覆層測(cè)厚儀測(cè)量值的因素及解決方法

        使用測(cè)厚儀與使用其他儀器相同。有必要掌握儀器的性能，了解測(cè)試條件。采用磁原理和渦流原理的涂層測(cè)厚儀都是根據(jù)被測(cè)基材的電學(xué)和磁學(xué)特性以及與探頭的距離來測(cè)量涂層的厚度。因此，被測(cè)基板的電磁物理特性和物理尺寸都會(huì)受到影響。磁通量和渦流的大小。這會(huì)影響測(cè)量值的可靠性。
         1.邊界間距
        如果探頭與被測(cè)物體邊界、孔、腔等截面的距離變化小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通量不足或渦流載體截面會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差。如果此時(shí)需要測(cè)量涂層厚度，只能在相同條件的未涂層表面上進(jìn)行預(yù)校準(zhǔn)來測(cè)量。 （注：新產(chǎn)品具有*的通過包層校準(zhǔn)功能，可以達(dá)到3-10%的精度）
         2.基板表面的曲率
        在一個(gè)平面對(duì)比樣品上校準(zhǔn)一個(gè)初始值，然后測(cè)量在包層厚度之后減去這個(gè)初始值。或者參考下一篇文章。
         3、母材厚度小
        基底金屬必須具有給定的小厚度，以便探頭的電磁場(chǎng)可以*包含在基底金屬中。厚度小與測(cè)量儀器的性能和金屬基體的性能有關(guān)。可以在不校正測(cè)量值的情況下執(zhí)行測(cè)量。對(duì)于基板厚度不足的影響，可以采取措施在基板下封閉一塊相同的材料來消除它。如果難以確定，或者不能添加基材，可以通過與已知涂層厚度的樣品進(jìn)行比較來確定與額定值的差異。并在測(cè)量時(shí)考慮到這一點(diǎn)，對(duì)測(cè)量值進(jìn)行相應(yīng)的修正或參照第2條。對(duì)于那些可以校準(zhǔn)的儀器，通過調(diào)節(jié)旋鈕或按鍵可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。
        反之，利用厚度過小的影響，可以開發(fā)測(cè)厚儀直接測(cè)量銅箔的厚度，如前所述。
         4、表面粗糙度和表面清潔度
        為了在粗糙表面上獲得具有代表性的平均測(cè)量值，必須進(jìn)行多次測(cè)量。顯然，基材或涂層越粗糙，測(cè)量的可靠性就越低。為了獲得可靠的數(shù)據(jù)，基材的平均粗糙度 Ra 應(yīng)小于涂層厚度的 5%。對(duì)于表面雜質(zhì)，應(yīng)去除。有些儀器有上限和下限，以消除那些“飛點(diǎn)"。
         5、探頭測(cè)板的力度
        測(cè)量探頭的力應(yīng)該是恒定的。并且應(yīng)該盡可能小。以免造成軟涂層變形，使測(cè)量值下降。如果活性波動(dòng)較大，必要時(shí)可在兩者之間放置一定厚度的堅(jiān)硬、不導(dǎo)電、剛性的薄膜。因此，可以通過減去膜厚適當(dāng)?shù)孬@得剩磁。
         6、外部恒定磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和矩陣剩磁
        測(cè)量時(shí)應(yīng)避免靠近具有干擾作用的外部磁場(chǎng)。殘磁可能會(huì)根據(jù)探測(cè)器的性能或多或少造成測(cè)量誤差，但這種現(xiàn)象在結(jié)構(gòu)鋼、深沖鋼板等中一般不會(huì)發(fā)生。
         7、涂層材料中的鐵磁和導(dǎo)電成分
        涂層中某些鐵磁成分的存在，例如某些顏料，會(huì)影響測(cè)量值。在這種情況下，參考樣品的涂層應(yīng)與被測(cè)物的涂層具有相同的電磁性能，并應(yīng)在校準(zhǔn)后使用。采用的方法可以是在鋁板或銅板樣品上涂上相同的涂層，用渦流法檢測(cè)后得到對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)